背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。

 1. 原子吸收分光光度分析法分子吸收与光散射

    分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。

    光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。

    产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重

    如何消除？

2.原子吸收分光光度分析法背景干扰校正方法

  (1) 氘灯连续光谱背景校正

旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰；

连续光谱通过时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)；

共振线通过时，

测定总吸收；

差值为有效吸收；

 （2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法

Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象；

校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；

见下页图示：

方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。

优点：校正能力强（可校正背景A　1.2～2.0）；

可校正波长范围宽：190 ～ 900nm ；

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